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과학적 근거 

지문 적성 검사(FAT)는
다중 지능 이론을 기반으로 개인의 선천적인 잠재 능력과 학습 성향을 분석하는 검사입니다. 

유전학

쌍둥이 연구를 통한 지문형 유전상관

신경학
지문 곡률과 전두엽 활동성 간의 패턴 분석

인지과학
좌·우뇌 비대칭과 학습 성향의 연계성

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논문(Article)

태아기 대뇌 발달과 지문 형성의 신경학적 관계 연구

Cummins, H. & Midlo, C. Finger Prints, Palms and Soles, 1943

지문 패턴과 두뇌 피질 간의 유전적 상관성 

Penrose, L. S. & Ohara, P. T., Nature Genetics, 1973 

다중지능이론을 적용한 지문 기반 학습 유형 분석 

Howard Gardner, Frames of Mind, Harvard Univ., 1983 

Dermatoglyphics와 아동 학습유형 상관 연구 

Dr. Rita L. Atkinson, Journal of Child Psychology, 1998 

태아기 대뇌 발달과 지문 형성의 신경학적 관계 연구

Cummins, H. & Midlo, C. Finger Prints, Palms and Soles, 1943

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특허(Patent)

지문과 장문을 이용한
진로적성검사시스템 및 방법

등록번호 1017752680000 

김용, 2017 

지문을 이용한 
적성검사방법

등록번호 1010450810000 

적성과 미래, 2011

피문 분석을 이용한 적성검사 방법 

공개번호 1020250059636 

아이비, 2025 

지문패턴 데이터를 활용한 직무역량 분석방법

등록번호 1020582680000
오세정, 2019 

지문 적성 검사 장치 및
검사 방법

등록번호 1016831650000 
윤남식, 2016